型号名称
产品设计方案论证报告
拟 制:
审 核:
批 准:
中国电子科技集团公司第二十四研究所
年 月 日
(型号名称 3号黑体)
产品设计方案论证报告
1 线路设计(5号 黑体)
1.1 引言(5号 黑体)
瞬时中频频率(IIFM)测量组件是频率探测系统的关键部件之一,该组件完成对前端混频后的中频信号的频率的测量,直接决定了频率探测系统理论上的测频速度,精度和测量噪声指标。
1.2 项目来源及开发的意义(5号 黑体)
(含用途和使用范围。示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××。
1.3 国内外同类产品大发展动向及技术水平(5号 黑体)
(示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
考察瞬时中频测频(IIFM)组件技术在最近二十年间发展动向,传统的模拟电路鉴频器和各种比较、积分式测频电路由于受线性度较差,响应较慢,受温度漂移、噪声干扰等外部影响较难消除等固有问题的困扰,已经被逐渐淘汰,同时,随着高速数字技术的发展,多种基于现代数字系统的频率测量方法速度已经大大提高,远超过了模拟方式提供的响应速度,而且线性度高,温漂、噪声干扰小,已成为当今IIFM技术的主流。
国外IIFM的报道具体指标多数比较模糊,代表性的有美国《Journal of Electronic Defense》 2002年报道的使用IIFM技术的IFM接收机,中频DC~30MHz,分辨率1KHz,测频时间约100nS。《Microwave Division》杂志2007年的报道,中频工作频段2~18GHz,测频时间最大400nS。国内相关研究近年较多,如2002年
航天科工25所的报道,中频24~25MHz,测频时间1us,精度0.1Hz。2006年《电子测量技术》的报道,中频50~950MHz,测频时间最小400nS,误差约0.3MHz。
1.4 项目合同的技术指标要求(5号 黑体)
1.工作频率70MHz4MHz ,10.2M1MHz
2.测频精度 2KHz,1KHz
3.测频速度 200nS
4.工作温度范围-40C~85C
1.5 样品解剖情况(5号 黑体)
(使用于仿制产品,正向设计产品略。示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
a)样品电路原理图、基本工作原理及关键元器件的主要参数指标;
b)样品主要技术指标(规范值,实测数据);
c)芯片照片、面积、版图极限尺寸(最小线宽、最小间距)及封装特点;
d)样品电路工艺设计、线路设计、版图设计特点及其分析。
1.6 产品电路设计和版图设计方案(5号 黑体)
a)功能框图和详细单元电路图及工作原理;
1.功能框图:电路功能框图如下图所示。
2.工作原理综述:
在一段时间内,待测频率信号s(t)的幅度通过高速A/D采样为N个量化数字,N称为采样点数,有,其中为A/D的单次转换时间。由数字鉴相的相关理论可以证明以下关系(理论公式的推导可参考:胡来招,数字瞬时测频,电子对抗,2005年4期):
其中,是输入模拟频率信号相对于数控振荡器频率的频偏,K为相位斜率,由数字鉴相器输出的数字相位位数决定,有,是计算出的相位差,是由延时前后的相位相减得出,有。为数字下变频后信号的频率。这样一来整个频率测量问题就完全化为本质上的数学运算过程,可以由任何具有初等运算功能的器件实现。
3.电路实现
以上算法可以采用ANALOG的高速A/D转换器AD9226采样,一组采样数据锁存后由Harris公司的数字下变频器HSP50214B完成数字变频输出两路正交信号,,后面的数字鉴相与频率计算使用ALTERA公司的高速CPLDEPM71285编程实现,同时完成对DDS源的信号控制输出。电路原理实现如下图:
b)产品电参数的优化设计,CAD辅助计算结果,关键指标涉及值与仿真值或模拟值之间的差距。设计余量与以往同类产品设计比较是否满足
设计要求等;线路仿真所选用的模型库,调用的模型,仿真结果以及实际投片情况预计;
c)版图设计构想、布局及其草图;
d)版图设计规则(含最小线宽、最小间距)及各类元器件设计规则;
e)组装用元器件的选用原则、检验标准;元器件使用新器材时的可行性及其后续加工要求;选用的元器件通用性分析,以及供货渠道情况;
f)产品的外壳选择、拟采取的后步加工途径、封装和结构要求(含产品功率要求);外壳的供货渠道情况;
g)当产品含有计算机软件时,对软件工程设计开发的方案;
h)产品所需配制的保障资源,如测试仪表、测试盒、测试夹具等(必要时)的设计开发情况。
i)类似产品的情况说明,与本产品的差异,以及本产品设计的预期分析及风险分析;
j)市场需求分析。
1.7 可靠性设计(5号 黑体)
(格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
a)分析产品实际使用的可靠性环境要求,以及研制项目任务书中对产品可靠性和质量等级的要求,确定可靠性设计重点;
b)根据经验、同类产品的可靠性水平、产品基本结构及使用环境,分析产品在寿命周期内可能
出现的失效模式,确定必须解决的主要失效模式及其解决途径;
c)针对上述主要失效模式,准备在产品设计(含电路、版图、工艺设计及后工序封装设计)中采取了哪些可靠性设计措施;
d)对确定了的产品关键特性和重要特性控制办法;多片、混合与模块电路,对确定的关键件、重要件提出详细的质量控制与保证措施;
e)对元器件,原材料的的技术和可靠性要求。元器件,原材料不能购买到要求的指标和可靠性等级时,所采取的措施。
1.8 项目任务书落实情况(5号 黑体)
(格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
a)对任务书中提出的改进计划是否能实施进行评估(需要时);
b)对技术难点和薄弱环节的攻关措施实施情况及结论;
c)对采用的新技术、新器材按方案进行论证、试验和鉴定后的结论。
1.9 方案设计评价结论(5号 黑体)
(格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
2 工艺设计(5号 黑体)
(格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
a)拟采用的工艺方案与现有工艺规范的对比分析及工艺实现的可能性。新技术、新工艺采用情
况(必要时),现有资源条件(设备,技术成熟成熟),以及对新技术新工艺所需要的资源开展的工作;
b)工艺流程的选择及各工序技术指标要求及容差;产品类型和工艺套路情况;主要工序技术指标要求及容差范围。对确定了的产品关键特性和重要特性控制办法;多片、混合与模块电路,对确定的关键件、重要件提出详细的质量控制与保证措施;
c)分析产品实际使用的可靠性环境要求,以及研制项目任务书中对产品可靠性和质量等级的要求,确定针对可靠性进行的工艺设计重点;
d)根据经验或同类产品的可靠性水平、产品基本结构及使用环境,分析产品在寿命周期内可能
出现的应工艺原因引起的失效模式,确定必须解决的主要失效模式及其解决途径;
e)针对上述主要失效模式,在产品工艺设计(含版图、工艺流程、工艺控制、特征参数、关键参数)中采取了哪些可靠性设计措施;
f)工艺保障条件具体情况的说明。
3 附件(5号 黑体)
(格式要求,5号宋体,1.25倍行距)
a)工艺方案(即工艺流程及技术要求,作为工艺流片或投批研制试验依据);
b)版图设计规则(作为版图DRC检查的依据);
c)电路原理图(功能框图和全部单元电路图及元器件参数,作为版图LVS检查的依据)。
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